手提式x荧光测厚仪
型号： hmx系统
厂家： 美国matrix metrologies公司
特点： 无损
单、双、三层镀层的厚度测量
无论体积多大的电镀件，hmx系统是理想的解决办法
对于qc、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
独特的"分组测量"模式，允许计算一组部件的平均厚度
软件
基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" batch measurement批量测量法功能允许对许多小部分同时进行非接触测量。
快速id合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力；
基础参数分析(fp): 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。）
技术数据
电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；ac转换器及多电池电源可选购。
x射线发生器： 银或钨靶微型x射线管；10-40kv，10-50微安
测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm
x射线探测管： si-pin高分辨率探测系统
尺 寸: 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm
重 量: 基体配置1.2kg；1.6kg带电池
参数调整: 不锈钢316作为参考标准

---

上海益朗仪器有限公司

13701600767
中国 上海